CARACTERIZACION EN ESTRUCTURAS MOS DEL DAÑADO ELECTRICO GENERADO POR PROCESOS DE GRABADO IONICO REAC

CARACTERIZACION EN ESTRUCTURAS MOS DEL DAÑADO ELECTRICO GENERADO POR PROCESOS DE GRABADO IONICO REAC (Libro en papel)

Editorial:
UNIVERSIDAD DE VALLADOLID
Año de edición:
Materia
Química
ISBN:
978-84-7762-516-2
Encuadernación:
Rústica
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